Service d'analyse pour l'industrie et la recherche

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  • Délais : seulement 5 jours ouvrés - Délai plus court sur demande : 24h ou 48h

    Délais : seulement 5 jours ouvrés - Délai plus court sur demande : 24h ou 48h

  • Expertise : CONSEIL - RAPIDITÉ - CONFIDENTIALITÉ. Nous étudions : Tout échantillon solide et toute problématique d'analyse

    Expertise : CONSEIL - RAPIDITÉ - CONFIDENTIALITÉ. Nous étudions : Tout échantillon solide et toute problématique d'analyse

  • Différents types d'analyse : SIMS : Secondary ions mass spectrometry - TOF-SIMS : Time of flight SIMS - XPS : X-ray photoelectron spectrometry - RBS : Rutherford back scattering - ECVP : Electrochemical capacitance voltage profiling...

    Différents types d'analyse : SIMS: Secondary ions mass spectrometry - TOF-SIMS: Time of flight SIMS - XPS: X-ray photoelectron spectrometry - RBS: Rutherford back scattering - ECVP: Electrochemical capacitance voltage profiling...

  • Large gamme de matériaux analysés : Analyse de tout échantillon solide : - Si, Ge, SiGe, SiC... - AlGaAs, InGaAs, InP, GaInP... - GaN, InN, GaAlN... - SiO2, Si3N4, SiOP... - HgCdTe, ZnTe, ZnS, ZnO... - Cu, Au, W, Fe, Ti, Ni, Pd... - Diamant

    Large gamme de matériaux analysés : Analyse de tout échantillon solide : - Si, Ge, SiGe, SiC... - AlGaAs, InGaAs, InP, GaInP... - GaN, InN, GaAlN... - SiO2, Si3N4, SiOP... - HgCdTe, ZnTe, ZnS, ZnO... - Cu, Au, W, Fe, Ti, Ni, Pd... - Diamant

Les techniques

Une grande variété d'analyse disponible :

SIMS : Secondary Ion Mass Spectrometry

ECVP : Electrochemical capacitance voltage profiling

TOF-SIMS : Time of flight - SIMS

XPS : X-ray Photoelectron Spectrometry

RBS : Rutherford Back Scattering

FIB-TEM : Focused Ion Beam - Transmission Electron Microscopy

Informations pratiques

Une large palette d'échantillons analysée :

  • Semiconducteurs :

    • - Si, Ge, SiGe, SiC, C (diamant)
    • - GaAs, InP, GaInP, GaAlAs, GaInAsP...
    • - GaN, AlN, InN, GaAlN, GaInN...
    • - CdTe, HgCdTe, HgTe, ZnTe, ZnO

  • Métaux :

    • - Cu, Au, W, Ti, Ni, Pd

  • Isolants :
    • - SiO2, Si3N4, BPSG, FSG