Qui sommes-nous ?

Nous sommes une société indépendante créée en 1998 par Maurice Quillec, ancien chercheur au Centre National d'Etudes des Télécommunications à Bagneux (France). Nous proposons un service de caractérisation et d'analyse d'échantillons de matériaux semiconducteurs, métalliques ou isolants à l'intention de l'industrie et de la recherche.

Nous avons une expérience étendue des matériaux semiconducteurs et isolants avec une expertise particulière des semiconducteurs III-V et II-VI. Nous analysons également les couches isolantes ou métalliques couramment associés aux composants à semiconducteurs et aux circuits intégrés. Nous étudions plus généralement les demandes portant sur tout type de solide (alliages métalliques, verres, revêtements, couches minces ...).

Avec une large palette d'outils d'analyse à notre disposition (SIMS, XPS, ECV profiler, TRPL, TOF-SIMS, RBS, FIB-TEM), nous prenons connaissance de vos problématiques et nous vous proposons les solutions les plus adaptées à la recherche des informations dont vous avez besoin.