Service d'analyse pour l'industrie et la recherche

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    Différents types d'analyse : SIMS : Secondary ions mass spectrometry - TOF-SIMS : Time of flight SIMS - XPS : X-ray photoelectron spectrometry - RBS : Rutherford back scattering - ECVP : Electrochemical capacitance voltage profiling...

    Différents types d'analyse : SIMS: Secondary ions mass spectrometry - TOF-SIMS: Time of flight SIMS - XPS: X-ray photoelectron spectrometry - RBS: Rutherford back scattering - ECVP: Electrochemical capacitance voltage profiling...

Qui sommes-nous?

Probion Analysis est une société indépendante créée en 1998, située à Bagneux près de Paris. Elle propose un service d’analyse d'échantillons de matériaux semiconducteurs, métalliques ou isolants à l'intention de l'industrie et de la recherche.

Nous avons une expérience étendue des matériaux semiconducteurs et isolants avec une expertise particulière des semiconducteurs : Silicium, III-V et II-VI. Nous analysons également les couches isolantes ou métalliques couramment associées aux composants à semiconducteurs et aux circuits intégrés. Nous étudions plus généralement les demandes portant sur tout type de solide (alliages métalliques, verres, revêtements, couches minces ...).

Avec une large palette d'outils d'analyse à notre disposition (SIMS, XPS, ECV profiler, TOF-SIMS, RBS, FIB-TEM), nous prenons connaissance de vos problématiques et nous vous proposons les solutions les plus adaptées à la recherche des informations dont vous avez besoin.